METHOD FOR MONITORING THE PRODUCTION OF A FLAT MATERIAL BY MEANS OF A SPECTROMETER OPERATING IN THE NEAR-INFRARED RANGE, AND DEVICE FOR CARRYING OUT SAID METHOD

摘要

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Überwachung der Produktion von Flachmaterial (20) mittels eines im nahen Infrarot arbeitenden Spektrometers (42), wobei das Flachmaterial (20) in seiner Längsrichtung (22) transportiert wird und im Abstand vom Flachmaterial (20) eine Traverse (26) angeordnet ist, die quer zur Längsrichtung (22) verläuft und in der eine grössere Anzahl von Lichtleiterfasern (28) mit ihrem ersten Endbereich zum Flachmaterial (20) hin angeordnet sind, sodass diese jeweils reflektiertes Licht entlang einer jedem Endbereich zugeordneten Spur (30) aufnehmen und die Lichtleiterfasern (28) das erfasste Licht an einen Umschalter (32) weiterleiten, in dem die zweiten Endbereiche der einzelnen Lichtleiterfasern (28) parallel zueinander auf einem Kreisbogen gleichverteilt angeordnet sind in einer Reihenfolge, die der Reihenfolge der Spuren (30) nicht entspricht, in dem mindestens eine Transferfaser (40), welche das Licht an das Spektrometer (42) leitet, auf einem Dreharm (36) angeordnet ist, der um das Zentrum des Kreisbogens gedreht wird und die Transferfaser (40) so mit den einzelnen Lichtleiterfasern (28) nacheinander in optischen Kontakt bringt.