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发明名称 Sekundärionen-massenspektrometrische Analyse von Metallen und Verfahren zur Herstellung eines Probenstandards hierfür
摘要
申请公布号 DE69319861(D1) 申请公布日期 1998.08.27
申请号 DE19936019861 申请日期 1993.08.13
申请人 DIRECTOR GENERAL AGENCY OF INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY, TOKIO/TOKYO, JP 发明人 OISHI, SHOJI, TSUKUBA-SHI, IBARAKI-KEN, JP
分类号 G01N1/00;G01N1/28;G01N1/36;G01N1/44;G01N23/22;G01N27/62;H01J49/26;(IPC1-7):G01N1/28 主分类号 G01N1/00
代理机构 代理人
主权项
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