发明名称 METHOD FOR MEASURING IMPURITY DISTRIBUTION IN SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH10223493(A) 申请公布日期 1998.08.21
申请号 JP19970024701 申请日期 1997.02.07
申请人 MATSUSHITA ELECTRON CORP 发明人 OHARA KANJI
分类号 G01N27/00;G01N27/22;H01L21/00;H01L21/22;H01L21/66;H01L29/00;(IPC1-7):H01L21/00 主分类号 G01N27/00
代理机构 代理人
主权项
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