| 发明名称 |
Mémoria com circuitos de tensão para detectar defeitos |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
BR9508297(A) |
申请公布日期 |
1998.07.14 |
| 申请号 |
BR19950008297 |
申请日期 |
1995.06.16 |
| 申请人 |
INTEL CORPORATION |
发明人 |
YAKOV MILSTAIN;EITAN ROSEN |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C11/413;G11C29/06;G11C29/50;(IPC1-7):G11C13/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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