发明名称 | 结晶半导体的制造方法 | ||
摘要 | 为覆盖非晶膜,设置构成掩模的氧化硅膜,在其上形成具有镍等促进结晶化的催化元素的覆膜,在此状态下如果进行热退火,催化元素从孔向非结晶硅膜中扩散,从而获得结晶硅膜。此硅膜具有结晶方向一致的特征。接着在照样附着有掩模的状态下,送入含有氯的气体。这时虽然在孔部分的硅膜上可使催化元素透过,但调整气氛与温度,形成不蚀刻硅膜厚度的氧化膜。在此工序中用卤素通过孔将硅膜中的催化元素去除,而硅的结晶性不变化。因此得到了良好的结晶性硅膜。 | ||
申请公布号 | CN1186326A | 申请公布日期 | 1998.07.01 |
申请号 | CN97125255.6 | 申请日期 | 1997.10.31 |
申请人 | 株式会社半导体能源研究所 | 发明人 | 山崎舜平;大谷久 |
分类号 | H01L21/00 | 主分类号 | H01L21/00 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 王忠忠;叶恺东 |
主权项 | 1、一种结晶半导体的制造方法,具有:在非晶硅膜上形成具有催化元素导入孔的掩模膜的第一工序;在上述催化元素导入孔上形成具有催化元素的覆膜的第二工序;通过热处理,使非晶硅膜横向生长的第三工序;以及导入具有卤化物和氧的气体,并在450~700℃下,对上述横向生长的硅膜进行热处理的第四工序。 | ||
地址 | 日本神奈川县 |