发明名称 METODO Y APARATO PARA LA DETECCION DE DEFECTOS.
摘要 UN METODO Y APARATO PARA LA DETECCION DE DEFECTOS EXISTENTES EN UN MIEMBRO QUE SE VA A INSPECCIONAR, EN EL QUE LA SUPERFICIE DE ESTE MIEMBRO SE CUBRE CON POLVO DEPOSITADO USANDO, POR EJEMPLO, ELECTRICIDAD ESTATICA ANTES DE DETECTAR EL DEFECTO. LA SUPERFICIE DEL MIEMBRO PUEDE SER CUBIERTA CON POLVO COMPLETAMENTE O EN UN ESPESOR MUY PEQUEÑO DE MANERA QUELA SUPERFICIE QUEDE PARCIALMENTE EXPUESTA. A CONTINUACION SE CALIENTA LA ZONA SUPERFICIAL DEL MIEMBRO MEDIANTE CALENTAMIENTO POR INDUCCION DE ALTA FRECUENCIA Y DESPUES SE MIDE LADISTRIBUCION DE TEMPERATURAS SOBRE LA SUPERFICIE CON UN TERMOMETRO DE RADIACION. LA PARTE PARA LA CUAL LA TEMPERATURAMEDIDA ES DIFERENTE DE LOS ALREDEDORES SE CONSIDERA UN DEFECTO. LA SUPERFICIE DEL MIEMBRO SE CUBRE CON POLVO DEMANERA QUE LA EMISIVIDAD SUPERFICIAL, Y LA DISTRIBUCION DE TEMPERATURAS RESULTANTE MEDIDA CON EL TERMOMETRO DE RADIACION, RESULTAN CASI IGUAL QUE LAS REALES.
申请公布号 ES2108616(B1) 申请公布日期 1998.07.01
申请号 ES19940002337 申请日期 1994.11.14
申请人 DAIDO TOKUSHUKO KABUSHIKI KAISHA 发明人 ENDO TOSHIO;YAGI TOMIKAZU;YAMADA RYUZO;ISHIKAWA NOBUO;YANO TAIZO
分类号 G01N25/72;(IPC1-7):G01N25/72 主分类号 G01N25/72
代理机构 代理人
主权项
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