| 发明名称 |
High-speed integrated circuit testing with JTAG |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0511752(B1) |
申请公布日期 |
1998.06.24 |
| 申请号 |
EP19920303308 |
申请日期 |
1992.04.14 |
| 申请人 |
AT&T CORP. |
发明人 |
GREENBERGER, ALAN JOEL;SAM, HOMAYOON |
| 分类号 |
G01R31/28;G06F11/267;H01L21/66;(IPC1-7):G06F11/26 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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