发明名称 Method for testing semiconductor integrated circuit
摘要
申请公布号 EP0568294(B1) 申请公布日期 1998.06.24
申请号 EP19930303222 申请日期 1993.04.26
申请人 FUJITSU LIMITED 发明人 YAMADA, TOYONOBU
分类号 G01R31/40;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/40
代理机构 代理人
主权项
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