可视型板之动作解析装置

摘要

藉由将电路板面分割成数单位面积区划，并相互独立地一次测定个个区划之负峰值率(相对于负峰值之全振幅值的比例)，而加以色相显示，将电路板全体之动作可视化成一个模样，将可以实现一在短时间内，容易地检查板是否良好的装置。为此，设有：一具多数个将被试验面分割成数个格子状单位面积区划，而用以检出各区划之电场的电极21a至21n，且在该电极之片面上黏着地设置有一身为具有弹性之绝缘体的检出体22的检出体阵列50；此外，并设有：一用以接收一些来自检出体阵列50之各个电极21a至21n的电场信号，并由该信号之正向振幅V+p(>0)、负向振幅V-p(>0)，进行一为式子V-p/V+p+V-p所定义之负峰值率Mpr的运算测定再输出之的测定层60；以及，一接收来自该测定层60之各个资料，而以分别对应于前述负峰值率 Mpr之色相，来总括各区划单位地进行面显示的显示层80。又，也可以进行正峰值率Ppr之测定运算。

主权项

1.一种可视型板之动作解析装置,其用以供一会产生矩形波信号之被试验面的电场动作状态的测定,其特征在于具有:一检出体阵列(50),其具有多数个将被试验面分割成数个格子状单位面积区划,来检出各区划之电场的电极(21a至21n),且于在该电极之片面上黏着地设置有一系具弹性之绝缘体的检出体(22);一测定层(60),用以接收一些来自该检出体阵列(50)之各个电极(21a至21n)的电场信号,并由该信号之正向振幅(V+p,正値)、负向振幅(V-p,负値),进行一为式子V-p/(V+p+V-p)所定义之负峰値率Mpr的测定运算,再输出之;一显示层(80),其接收各个来自该测定层(60)之资料,并以分别对应于前述负峰値率Mpr之色相,总括区划单位地来进行面显示。2.一种可视型板之动作解析装置,其用以供一会产生矩形波信号之被试验面的电场动作状态的测定,其特征在于具有:一检出体阵列(50),其具有多数个将被试验面分割成数个格子状单位面积区划,来检出各区划之电场的电极(21a至21n),且于在该电极之片面上黏着地设置有一系具弹性之绝缘体的检出体(22);一测定层(60),用以接收一些来自该检出体阵列(50)之各个电极(21a至21n)的电场信号,并由该信号之正向振幅(V+p,正値)、负向振幅(V-p,正値),进行一为式子V-p/(V+p+V-p)所定义之负峰値率Mpr的测定运算,再输出之;一外部处理部(72),其接收各个来自该测定层(60)之资料,并依序轮替进行AD变换,然后再将个个负峰値率Mpr资料以不同之色相来总括区划单位地面显示于一显示画面(74)上。3.如申请专利范围第1项所述之可视型板之动作解析装置,其特征在于取代一进行一为式子V-p/(V+p+V-p)所定义之负峰値率Mpr的测定运算并输出的测定层(60),而设了一进行一为式子V+p/(V+p+V-p)所定义之正峰値率Ppr的测定运算并输出之测定层(60),而且,取代一对应于前述负峰値率Mpr之色相来总括区划单位地来进行显示的显示层(80),而采用一对应于前述正峰値率Ppr之色相来总括区划单位地来进行面显示的显示层(80)。4.如申请专利范围第2项所述之可视型板之动作解析装置,其特征在于取代一进行一为式子V-p/(V+p+V-p)所定义之负峰値率Mpr的测定运算并输出的测定层(60),而设了一进行一为式子V+p/(V+p+V-p)所定义之正峰値率Ppr的测定运算并输出之的测定层(60),而且,取代一将个个负峰値率Mpr资料以不同之色相来总括区划单位地面显示于一显示画面(74)上的外部处理部(72),而设置一将个个正峰値率Ppr资料以不同之色相来总括区划单位地面显示于一显示画面(74)上的外部处理部(72)。图示简单说明:第一图为本发明之利用多数配列成格子状之单位面积区的各负峰値,将电路板全体之动作状态作成色相分布而加以显示的一种装置之构成图。第二图为本发明之装置的构造图,以及其和一MxN个色相显示部的显示层80所组成的构造图。第三(a)图为本发明之其中一种负峰率测定部60a的电路构成图。第三(b)图为本发明之一设有可变增益放大器的一种负峰値率测定部60a的电路构成图。第四图为本发明之一利用开关阵列依序70切换进行测定,并显示于显示画面74上之一种显示形态的构成例。第五图为本发明之一种色相显示部80a之电路构成图。第六图为习知电路板异常部位检出装置之构成图。第七图为信号检出部之等效电路。第八图为一用以说明探针11之输入端波形以及标示率间之关系的图。第九图为一根据本发明之生于各电极上的信号波形例。