| 摘要 |
본 고안은 반도체 칩에 관한 것으로 특히, 반도체 칩의 내부 회로와 전혀 상관없는 위치에 두 개의 탐침감지용 패드를 형성하고 상기 탐침감지용 패드를 연결하는 메탈라인을 구비시키는 것을 특징으로 하는 탐침확인용 패드(PAD)가 내장된 반도체 칩을 제공하여 프로우버 태스트시 탐침의 길이를 확인할 수 있어 탐침의 길이 차이로 인해 반도체 칩의 전기적 특성의 변화가 발생될 때 이를 반도체의 오류로 판단할 수 있다는 문제점을 해소하는 효과가 있다. |
