首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
CONDUCTION INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD THEREOF AND ITS INSPECTION PROBE
摘要
申请公布号
JPH10115653(A)
申请公布日期
1998.05.06
申请号
JP19960272155
申请日期
1996.10.15
申请人
OKANO HIGHTECH KK
发明人
YAMAOKA HIDEJI
分类号
G01R31/02;(IPC1-7):G01R31/02
主分类号
G01R31/02
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
乾燥粉末薬物送達システムおよび方法
メディアデータの送信方法及び装置
組織結紮のためのデバイスおよび方法
GAME MACHINE
DISTRIBUTION BOARD AND STORAGE BATTERY PACK
SEMICONDUCTOR DEVICE
有機材料の堆積方法
Dispositivo de señalización óptica para faro de vehículo
Sistema para la práctica simulada de ejercicios de escalada
Determinación de ADN y/o ARN a partir de datos de espectrofotómetro UV-VIS
Prueba de embarazo
Disposición de procesamiento de señal y método de procesamiento de señal
Enfriador de vasos, copas y similares
Pyridine CDK9 kinase inhibitors
Insulin secretion peptide derivative in which charge on N-terminus is modified
Compositions and methods for biological production of isoprene
Audio encoder and decoder
Method and system for automatically managing secure communications in multiple communications jurisdiction zones
System and method for control of a transcritical refrigeration system
Needleless connector and access port disinfection cleaner and antimicrobial protection cap
