发明名称 | 一种制备具有低漏电流和低极化疲劳性能的电器件的方法 | ||
摘要 | 由溶剂中的液体聚烷氧基化的金属复合物形成的前体溶液(P22)被涂布到基片上形成金属氧化物薄膜(P26)。液体薄膜在空气中在高至500℃的温度下烘烤(P28),同时用波长为180nm-300nm的UV进行辐射。薄膜在提高的温度下二次烘烤,同时在一次或二次烘烤进行UV辐射。然后,薄膜在700℃—850℃的温度下退火(P32)以产生薄膜固体金属产品。或者,对液体前体进行UV辐射,薄膜可以用UV辐射退火,或对前体、在烘烤之前或之后对薄膜结合使用UV辐射和/或UV退火。 | ||
申请公布号 | CN1179231A | 申请公布日期 | 1998.04.15 |
申请号 | CN96192611.2 | 申请日期 | 1996.03.14 |
申请人 | 塞姆特里克斯公司;松下电子工业株式会社 | 发明人 | 吾妻正道;拉里·D·麦克米兰;卡洛斯·A·帕斯·德·阿劳约;迈克尔·C·斯科特 |
分类号 | H01L21/3205 | 主分类号 | H01L21/3205 |
代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 甘玲 |
主权项 | 1.一种制造低漏电流、薄膜金属氧化物电学器件(20)的方法,所述方法包括以下步骤:提供基片(11,12,13,14)和一种含有多种金属物质的液体前体,其量足以由于所述前体退火产生固体金属氧化物(15);和将所述液体前体涂布到所述基片上,在所述基片上形成液体薄膜;和在足以形成干燥金属氧化物薄膜的条件下干燥所述基片上的所述液体薄膜;所述方法的特征在于以下步骤:将所述前体、所述液体薄膜、和所述干燥氧化物薄膜的至少一种暴露于紫外辐射源,紫外辐射源具有足以使所述金属氧化物薄膜中的电学性质发生改变;此后将所述干燥的金属氧化物薄膜退火。 | ||
地址 | 美国科罗拉多州 |