首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 Wafer-Einbrenntestschaltung für Halbleiterspeichergerät
摘要
申请公布号 DE19724276(A1) 申请公布日期 1998.04.02
申请号 DE19971024276 申请日期 1997.06.09
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD., SUWON-CITY, KR 发明人 CHO, SOO-IN, SEOUL/SOUL, KR;CHOI, JONG-HYUN, SUWON, KR
分类号 G01R31/26;G01R31/28;G11C7/00;G11C11/401;G11C11/407;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/06;G11C29/50;H01L21/66;H01L21/8242;H01L27/108;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com