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发明名称
SEMICONDUCTOR MEMORY TEST DEVICE
摘要
申请公布号
JPH1083696(A)
申请公布日期
1998.03.31
申请号
JP19960237849
申请日期
1996.09.09
申请人
ADVANTEST CORP
发明人
SATOU SHINYA
分类号
G01R31/28;G11C11/401;G11C11/407;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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