发明名称 METHOD OF EVALUATING SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH1074811(A) 申请公布日期 1998.03.17
申请号 JP19960232086 申请日期 1996.09.02
申请人 MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD 发明人 TOYAMA YOKO
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
地址