发明名称 | 利用离子植入技术制造只读存贮器的方法 | ||
摘要 | 一种利用离子植入技术制造只读存贮器元件的方法,其特点是在已完成栅极与源/漏极的元件上全面沉积-SiO<SUB>2</SUB>层;再沉积一层硼磷硅酸盐玻璃;再用金属接触光掩模刻蚀至露出源/漏极顶部、后除去光阻;再用接触栓光掩模作离子植入,后除出光阻;再利用编码植入,先将部分拟编码区的硼磷硅酸盐玻璃蚀刻至很薄;然后进行高能离子编码植入;最后形成金属连线。本制造方法大幅度地将原交货时间35天减少一半以上。 | ||
申请公布号 | CN1037723C | 申请公布日期 | 1998.03.11 |
申请号 | CN94115028.3 | 申请日期 | 1994.08.05 |
申请人 | 台湾茂矽电子股份有限公司 | 发明人 | 陈民良;徐英杰;高昭男 |
分类号 | G11C17/12;H01L21/02 | 主分类号 | G11C17/12 |
代理机构 | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人 | 马莹 |
主权项 | 1、一种n通道只读存贮器元件的制造方法,包含步骤:(a)在基板上制作一P型井区;(b)形成一栅极氧化层;(c)在半导体晶片上界定一栅极;(d)制作源/漏极; 其特征在于,还包括步骤:(e)全面性覆盖一介电层在整个半导体晶片上;(f)制作接触窗(contact layer);(g)在欲编码区域部分蚀刻介电层,得使该栅极顶端介电层变薄;(h)以磷离子物种穿透栅极至通道区作只读存贮器编码;(i)形成金属连线。 | ||
地址 | 台湾省新竹市科学工业园区 |