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发明名称 LOGIC CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD
摘要
申请公布号 JPH1062498(A) 申请公布日期 1998.03.06
申请号 JP19960233621 申请日期 1996.08.15
申请人 NEC CORP 发明人 MURAYAMA TORU
分类号 G01R31/317;G01R31/28;G11C11/413;G11C29/00;G11C29/50;G11C29/56;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人
主权项
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