发明名称 |
DOUBLE PATTERNING METHOD OF FORMING SEMICONDUCTOR ACTIVE AREAS AND ISOLATION REGIONS |
摘要 |
이중 패턴화 공정을 이용하여 반도체 기판 내에 활성 영역들 및 분리 구역들을 형성하는 방법이 개시된다. 방법은 기판 표면 상에 제1 재료를 형성하는 단계; 제1 재료 상에 제2 재료를 형성하는 단계; 제2 재료 내에 서로 평행한 복수의 제1 트렌치들을 형성하는 단계; 제2 재료 내에 복수의 제1 트렌치들에 수직이고 기판의 중심 구역에서 복수의 제1 트렌치들을 가로지르는 제2 트렌치를 형성하는 단계; 제1 및 제2 트렌치들을 제3 재료로 충전하는 단계; 서로 평행하며 기판의 중심 구역을 통하여 연장되지 않는 제3 트렌치들을 제3 재료 내에 형성하도록 제2 재료를 제거하는 단계; 및 제3 트렌치들을 제1 재료를 통하여 기판 내로 연장시키는 단계를 포함한다. |
申请公布号 |
KR20160104081(A) |
申请公布日期 |
2016.09.02 |
申请号 |
KR20167022827 |
申请日期 |
2014.12.16 |
申请人 |
SILICON STORAGE TECHNOLOGY, INC. |
发明人 |
YANG JENG WEI;SU CHIEN SHENG |
分类号 |
H01L21/762;H01L21/308 |
主分类号 |
H01L21/762 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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