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发明名称 ABTASTSTRAHLKONTROLLSYSTEM MIT VERSETZTER REFERENZSKALA
摘要
申请公布号 DE69126884(T2) 申请公布日期 1998.02.12
申请号 DE19916026884T 申请日期 1991.12.06
申请人 OPTRONICS INTERNATIONAL CORPORATION, CHELMSFORD, MASS., US 发明人 PINARD, ALWARD, I., WESTFORD, MA 01886, US
分类号 H04N1/113;G06K15/12;H04N1/047;H04N1/10;H04N1/191;(IPC1-7):H04N1/04 主分类号 H04N1/113
代理机构 代理人
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