| 主权项 |
1.一种动态随意出入记忆体测试装置,包含有:一支撑托板,具有一个略呈直立状态的表面;至少一个进料装置,设置在支撑托板的表面上,可供容纳多个待测的动态随意出入记忆体元件,并将该等待测元件依序沿着支撑托板的表面由重力之作用而移动至一个进料准备位置上;一个测试座,设置在与该至少一个进料装置相配合的位置上,以供自该进料装置内依序一个接一个地接收该等动态随意出入记忆体元件,来进行该元件的测试作业;一个控制单元,用以控制测试作业之进行;一移料装置,具有一个第一抓取装置,可选择性地抓取及释放动态随意出入记忆体元件,该移料装置可在控制单元的控制下在一个能供该第一抓取装置自该至少一个进料装置的进料准备位置上抓取动态随意出入记忆体元件的第一位置,以及将该元件置入该测试座内的第二位置之间移动,该移料装置另外包含有一个第二抓取装置,其系设置成在该移料装置位在第一位置上,能够抓取位在测试座内的被测动态随意出入记忆体元件,而在移料装置位在第二位置上时将其上所抓取的动态随意出入记忆体元件移动至一个出料准备位置上;以及一分类装置,包含有多个出料槽,具有一入口及一出口,该出口系设置成可供一个测试完成之动态随意出入记忆体元件的接收容器连接至其上,以接收测试完成的元件,一个移动座可在该出料准备位置及该等多个出料槽之入口之间移动,以供自移料装置的第二抓取装置上接收已测试完成的动态随意出入记忆体元件,并在该控制单元依据该元件之测试结果的控制下,移动至该等出料槽之相关一者的入口处,以将该元件送入至该出料槽内,进而移入至其相关的动态随意出入记忆体接收容器内。2.根据申请专利范围第1项之动态随意出入记忆体测试装置,其中支撑托板上包含有一个第二进料装置,其内可容纳多个待测之动态随意出入记忆体元件,并可依序将该等动态随意出入记忆体元件移动至第二进料装置的进料准备位置上,以及相关的测试座及移料装置,其中第二进料装置的移料装置具有一个第三抓取装置,可选择性地抓取及释放动态随意出入记忆体元件,该移料装置可在控制单元的控制下在一个能供该第三抓取装置自该第二进料装置的进料准备位置上抓取动态随意出入记忆体元件的第三位置,以及将该元件置入该测试座内的第四位置之间移动,该移料位置另外包含有一个第四抓取装置,其系设置成在该第二进料装置之移料装置位在第三位置上,能够抓取位在测试座内的被测动态随意出入记忆体元件,而在该移料装置位在第四位置上时将其上所抓取的动态随意出入记忆体元件移动至一个出料准备位置上。3.根据申请专利范围第1项之动态随意出入记忆体测试装置,其中该进料装置包含有一个沿着支撑托板之表面设置而略呈直立状的进料槽道,其内可以上下叠置的方式容纳该等多个待测的动态随意出入记忆体元件,而该进料准备位置则是由一个固定在该进料槽道内的止挡块所界定,该等待测动态随意出入记忆体元件可在重力的作用下移动至靠贴于该止挡块上。4.根据申请专利范围第3项之动态随意出入记忆体测试装置,其中该进料槽道上设置有加温装置,可将其内的待测动态随意出入记忆体元件元件的温度升高至接近其工作温度,以增进测试的准确性。5.根据申请专利范围第1项之动态随意出入记忆体测试装置,其中该移料装置包含有第一线性移动装置,可将该等抓取装置分别在第一或第三位置与第二或第四位置之间移动。6.根据申请专利范围第1项之动态随意出入记忆体元件测试装置,其中该等抓取装置包含有真空吸引罩杯,连通至一个真空压力源,可在该控制单元的控制下来吸附位在第一和第三位置上的动态随意出入记忆体元件,并将其等在第二和第四位置上加以释放掉。7.根据申请专利范围第6项之动态随意出入记忆体元件测试装置,其中该移料装置进一步包含有一个第二线性移动装置,可将该等真空吸引罩杯在贴合于第一和第三位置上之动态随意出入记忆体元件近接位置,以及一个在第二和第四位置上脱离该等动态随意出入记忆体元件的远离位置之间移动。8.根据申请专利范围第1项之动态随意出入记忆体测试装置,其中该分类装置的移动座具有通道,具有一入口,用以自移料装置上接收其所释放出来的动态随意出入记忆体元件,以及一出口,用以将该动态随意出入记忆体元件释放至相关的出料槽内,该通道内设有一可回缩之止挡销,可将动态随意出入记忆体元件暂时保留于该通道内,该止挡销可在控制单元的控制下缩回来使动态随意出入记忆体元件能够通过该通道,进而自其出口释出。9.根据申请专利范围第1项之动态随意出入记忆体测试装置,其中该等出料槽的出口均设有一个微动开关,可在该测试完成动态随意出入记忆体元件的接收容器连接至该出口时被启动,而传送一个相关的信号至该控制元上。10.根据申请专利范围第1项之动态随意出入记忆体测试装置,其中该等出料槽每一者内均设有一个动态随意出入记忆体元件通过测感器,可侦测出动态随意出入记忆体元件之通过该出料槽,进而计算送入该出料槽内的动态随意出入记忆体元件的数目。11.根据申请专利范围第10项之动态随意出入记忆体测试装置,其中该测感器包含有一光电式测感器,可在每一动态随意出入记忆体元件通过时产生一脉波信号,以供做为动态随意出入记忆体元件计数之用,并可在其相关的动态随意出入记忆体元件容器装满了动态随意出入记忆体元件之后,发出一个满载信号给控制单元,以停止测试好之元件的配送。12.根据申请专利范围第1项之动态随意出入记忆体测试装置,其中该测试座包含有光电式测感器,与该控制单元相连通,以供侦测测试座内是否有待测动态随意出入记忆体元件存在。13.根据申请专利范围第2项之动态随意出入记忆体测试装置,其中该第二进料装置包含有一测试好之动态随意出入记忆体元件的暂置装置,设置在第二进料装置的出料准备位置上,用以暂时保留已测试好而由第二进料装置之移送装置自第二进料装置的测试座内移出之动态随意出入记忆体元件,该暂置装置具有一入口,用以自第二进料装置之移料装置上接收其所释放出来的动态随意出入记忆体元件,以及一出口,用以将该动态随意出入记忆体元件释放至位在相关位置上之移动座内,该通道内设有一可回缩之止挡销,可将动态随意出入记忆体元件暂时保留于该通道内,该止挡销可在控制单元的控制下缩回来使动态随意出入记忆体元件能够通过该通道,进而自其出口释出。14.根据申请专利范围第1项之动态随意出入记忆体测试装置,其中该等出料槽系并排排列,而使其等的入口成为直线对齐设置,而其中该分类装置的移动座系可在控制单元的控制下沿着一个轨条做直线运动而移至任一出料槽的入口处。15.根据申请专利范围第4项之动态随意出入记忆体测试装置,其中进料装置包含有一隔热绝缘层包覆在其外侧,以将其加温装置所升高的温度加以与外界隔离开。图示简单说明:第一图是本创作之动态随意出入记忆体测试装置之前视图。第二图是本创作之动态随意出入记忆体测试装置的侧视图。第三图是本创作之动态随意出入记忆体测试装置中的第一进料导槽及移料装置之外观图。第四图是本创作之动态随意出入记忆体测试装置中的第二进料导槽及移料装置之外观图。第五图是本创作之动态随意出入记忆体测试装置中的动态随意出入记忆体分类装置及其相关的出料装置。第六图是一外观图,显示出一种可供在本创作动态随意出入记忆体测试装置上进行测试作业的习用的动态随意出入记忆体元件。 |
