发明名称 DEVICE AND METHOD FOR DIAGNOSING FAULT OF SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH1021079(A) 申请公布日期 1998.01.23
申请号 JP19960173847 申请日期 1996.07.03
申请人 TOSHIBA CORP 发明人 WATANABE TAKAHIRO
分类号 G06F9/44;G06N5/04;(IPC1-7):G06F9/44 主分类号 G06F9/44
代理机构 代理人
主权项
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