| 主权项 |
1.一种键盘自动测试装置,用以取代键盘测试一主机板上之键盘处理相关电路,上述主机板系透过复数扫描输入线和复数扫描输出线与键盘连接,其包括:一控制开关组,分别连接上述主机板之上述扫描输入线和上述扫描输出线,其根据一控制信号,用以将对应于一键盘按键之扫描输入线和扫描输出线形成导通状态;以及一控制装置,用以产生上述控制信号,藉以模拟上述键盘按键,将对应之扫描输入线和扫描输出线形成导通状态。2.如申请专利范围第1项所述之键盘自动测试装置,其中上述控制开关组包括:复数扫描输入线开关,其一端分别连接上述扫描输入线,并受控于上述控制信号;以及复数扫描输出线开关,其一端分别连接上述扫描输出线,其另一端则与上述扫描输入线开关共同连接,并受控于上述控制信号;藉此,上述控制信号分别将指定之扫描输入线开关和扫描输出线开关开启,藉以导通对应于上述键盘按键之扫描输入线和扫描输出线。3.如申请专利范围第2项所述之键盘自动测试装置,其中每一扫描输入线开关和扫描输出线开关系由一类比开关所构成,上述控制信号则透过对应于上述类比开关的致能端,控制其开关状态。4.如申请专利范围第2项所述之键盘自动测试装置,其中上述扫描输入线的个数为8,上述扫描输出线的个数为16。5.如申请专利范围第4项所述之键盘自动测试装置,其中上述扫描输入线开关是由两个4类比开关IC来实施,上述扫描输出线开关是由四个4类比开关IC来实施。6.如申请专利范围第1项所述之键盘自动测试装置,其中尚包括一指示装置,其根据上述控制信号,用以表示上述控制装置正在模拟上述键盘按键。7.如申请专利范围第6项所述之键盘自动测试装置,其中上述指示装置包括:一逻辑电路,用以侦测上述控制装置所送出的上述控制信号,是否为正在模拟上述键盘按键;以及一发光二极体,连接上述逻辑电路之输出端和一电源间,当上述逻辑电路判断出正在模拟上述键盘按键时,则呈导通状态。8.如申请专利范围第1项所述之键盘自动测试装置,其中上述控制装置系为一微控制器,并且根据上述键盘按键所对应之扫描输入线和扫描输出线,依序送出上述控制信号,藉以测试上述主机板上之键盘处理相关电路。9.如申请专利范围第1项所述之键盘自动测试装置,其中尚包括一启动开关,用以启动上述控制装置进行测试。10.如申请专利范围第1项所述之键盘自动测试装置,其中尚包括一重置开关,用以重置上述控制装置。11.如申请专利范围第1项所述之键盘自动测试装置,其中上述键盘自动测试装置系利用一连接器,连接至待测之主机板上。图示简单说明:第一图表示一般笔记型电脑中键盘工作原理之示意图。第二图为本创作之键盘自动测试装置在进行基板测试时之架构示意图。第三图为本创作之键盘自动测试装置在进行系统测试时之架构示意图。第四图为本创作实施例中,用以建构字键资料库之电路架构图。第五图为第四图中键盘扫描线路侦测装置之详细电路图。第六图为第二图和第三图中键盘自动测试装置之详细电路图。 |
