| 摘要 |
<p>Cette invention concerne une plaquette (1) permettant d'observer une matière (4) au microscope, laquelle plaquette comprend une surface de montage (15) sur laquelle est placée la matière (4) à observer. Cette plaquette comprend également une couche amovible (2) qui est disposée sur la surface de montage (4). Une ou plusieurs ouvertures (3) pratiquées dans la couche amovible (5) définissent une ou plusieurs zones exposées (6) sur la surface de montage (15). Ces zones permettent de maintenir la matière à observer lorsque la couche amovible (12) est détachée. Chaque zone exposée possède des limites déterminées, et toute matière à examiner qui reste sur la plaquette est confinée dans ladite zone exposée. Ce système permet de faciliter l'examen de ladite plaquette en vue d'une identification par vision humaine ou artificielle. Ce système permet également de faciliter la localisation de la matière, de confiner cette dernière dans les zones assurant la meilleure observation possible (à l'écart des bords de la plaquette et du verre de couverture), et de limiter la quantité de matière, ou la zone couverte par celle-ci, afin d'assurer une observation et une analyse rapides et rigoureuses. Cette invention concerne également un procédé d'utilisation de ces plaquettes.</p> |
