Elektronenmikroskop, Probenstellglied für ein Elektronenmikroskop und Verfahren zum Beobachten von mikroskopischen Bildern
摘要
申请公布号
DE69128104(D1)
申请公布日期
1997.12.11
申请号
DE19916028104
申请日期
1991.05.16
申请人
HITACHI, LTD., TOKIO/TOKYO, JP
发明人
YAJIMA, YUSUKE, KOKUBUNJI-SHI, TOKYO, JP;ICHIKAWA, MASAKAZU, SETAGAYA-KU, TOKYO, JP;ICHIHASHI, MIKIO, KODAIRA-SHI, TOKYO, JP;SUZUKI, RYO, HACHIOHJI-SHI, TOKYO, JP;TAKESHITA, MASATOSHI, HACHIOHJI-SHI, TOKYO, JP
