PROCESS FOR DETERMINING THE CRITICAL CURRENT Ic OF SUPERCONDUCTORS AND MEASURING INSTRUMENT THEREFOR

摘要

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung des örtlichen kritischen Stromes in einem Supraleiter und eine Messeinrichtung. Hiermit können auf einfache und zuverlässige Art und Weise Supraleiter in Form von Halbzeugen, Kabel, Kompositen und Einkern- sowie Mehrkernsupraleiter in wirtschaftlicher Weise hinsichtlich ihrer Qualität erfasst werden. Insbesondere Supraleiter mit hoher Sprungtemperatur Tc können mit geringem technischen Aufwand zügig vermessen werden.