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发明名称 TESTING METHOD AND TESTING CIRCUIT OF LOGIC CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH09264929(A) 申请公布日期 1997.10.07
申请号 JP19960076091 申请日期 1996.03.29
申请人 NEC CORP 发明人 NISHIDA KOJI
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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