发明名称 X射线分光计
摘要 一种X射线分光计,其中一个点状X射线源、一个光谱晶体和一个X射线探测器沿着一个罗兰圆布置,而且其中在保持该X射线源与该光谱晶体之间的距离等于该光谱晶体与该X射线探测器之间的距离的情况下,连续地改变此距离,致使待光谱分析的X射线的波长连续地改变,该X射线分光计的特征在于该光谱晶体包括一组用来光谱分析波长不同的各自X射线的弧形晶体,诸弧形晶体中至少一个位于离开包含该罗兰圆的该基准平面的位置,以及该射线探测器包括至少一个用来探测由诸弧形晶体所衍射的诸X射线的射线探测器。
申请公布号 CN1160203A 申请公布日期 1997.09.24
申请号 CN96121550.X 申请日期 1996.12.13
申请人 株式会社岛津制作所 发明人 石田秀信
分类号 G01N23/22 主分类号 G01N23/22
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 杨晓光
主权项 1.在一种X射线分光计中其中一个点状X射线源、一个光谱晶体和X射线探测装置沿着一个罗兰圆布置,而且其中在保持该X射线源与该光谱晶体之间的距离等于该光谱晶体与该X射线探测装置之间的距离的情况下,连续地改变此距离,致使待光谱分析的X射线的波长连续地改变,所述X射线分光计的特征在于:所述光谱晶体包括一组用来光谱分析波长不同的各自X射线的弧形晶体,所述诸弧形晶体中至少一个位于离开包含所述罗兰圆的该基准平面的位置;以及所述X射线探测装置由至少一个用来探测由所述诸弧形晶体所衍射的诸X射线的X射线探测器形成。
地址 日本京都