发明名称 | 半导体衬底及其制造方法 | ||
摘要 | 生产平整、质量好SOI衬底的方法,同时包括多孔形成步骤,在硅衬底的至少一个表面上形成多孔硅层;及大孔隙率层形成步骤,在多孔硅层中形成大孔隙率层。把离子注入多孔硅层并伸入到给定区域,或者在多孔形成步骤中改变阳极氧化的电流密度,进行大孔隙率层形成步骤。在多孔硅层上面外延生长非多孔单晶硅层。把多孔硅层表面和支撑衬底连接在一起,在具有大孔隙率的多孔硅层处进行分离。接着进行选择刻蚀,以便除掉多孔硅层。通过重复利用衬底能节省资源和降低成本。 | ||
申请公布号 | CN1159071A | 申请公布日期 | 1997.09.10 |
申请号 | CN96121054.0 | 申请日期 | 1996.10.04 |
申请人 | 佳能株式会社 | 发明人 | 佐藤信彦;米原隆夫;坂口清文 |
分类号 | H01L21/02 | 主分类号 | H01L21/02 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王以平 |
主权项 | 1 一种制造半导体衬底的方法,包括下列步骤:多孔形成步骤,用于在硅衬底的至少一个表面上形成多孔硅层;以及大孔隙率层形成步骤,用于在所述多孔硅层内,距所述多孔硅表面有恒定深度的位置形成大孔隙率的层。 | ||
地址 | 日本东京 |