发明名称 半导体衬底及其制造方法
摘要 生产平整、质量好SOI衬底的方法,同时包括多孔形成步骤,在硅衬底的至少一个表面上形成多孔硅层;及大孔隙率层形成步骤,在多孔硅层中形成大孔隙率层。把离子注入多孔硅层并伸入到给定区域,或者在多孔形成步骤中改变阳极氧化的电流密度,进行大孔隙率层形成步骤。在多孔硅层上面外延生长非多孔单晶硅层。把多孔硅层表面和支撑衬底连接在一起,在具有大孔隙率的多孔硅层处进行分离。接着进行选择刻蚀,以便除掉多孔硅层。通过重复利用衬底能节省资源和降低成本。
申请公布号 CN1159071A 申请公布日期 1997.09.10
申请号 CN96121054.0 申请日期 1996.10.04
申请人 佳能株式会社 发明人 佐藤信彦;米原隆夫;坂口清文
分类号 H01L21/02 主分类号 H01L21/02
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 王以平
主权项 1 一种制造半导体衬底的方法,包括下列步骤:多孔形成步骤,用于在硅衬底的至少一个表面上形成多孔硅层;以及大孔隙率层形成步骤,用于在所述多孔硅层内,距所述多孔硅表面有恒定深度的位置形成大孔隙率的层。
地址 日本东京