发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR MONITORING OF ABNORMALITY OF INSTRUMENT
摘要
申请公布号 JPH09229762(A) 申请公布日期 1997.09.05
申请号 JP19960036576 申请日期 1996.02.23
申请人 HITACHI LTD;HITACHI ENG & SERVICES CO LTD 发明人 UENO YUICHIRO;SENOO MAKOTO;YANAGIBASHI MINORU;NAKAYAMA MICHIO;NAKAMURA HIDEO
分类号 G01M99/00;G01H3/08;G01H17/00;(IPC1-7):G01H17/00;G01M19/00 主分类号 G01M99/00
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利