Testen von Eingangs- und Ausgangsstufen in integrierten Schaltungen
摘要
申请公布号
DE69219235(T2)
申请公布日期
1997.08.07
申请号
DE19926019235T
申请日期
1992.06.30
申请人
HEWLETT-PACKARD CO., PALO ALTO, CALIF., US
发明人
PRITCHARD, THOMAS B., COURT BRUSH PRAIRIE WA 98606;HOEKSTRA, CASEY D.;KLAUS, RICHARD I., VANCOUVER, WA 98665, US;FRANZ, DOUGLAS L., VANCOUVER, WA 98685, US
