发明名称 半导体存储设备
摘要 在上块(UB)中,存储单元的编程是反向进行的,由此,当上块(UB)被选出时,得到的是与期望数据相反的反向数据。在读出放大器(SA1)的输出端附加一个反相器电路(IV),它将反向数据反相,从而最终得到期望数据。所具有的这种结构,它使得通/断可控存储单元的数目减少,从而提供一种削减功率消耗的半导体存储设备。此外,具有这种结构的断开状态存储单元,能尽可能多地消除负载(充电)电容对字线和位线的加载作用,从而提供保证对存储单元高速存取的半导体存储设备。
申请公布号 CN1156324A 申请公布日期 1997.08.06
申请号 CN96111845.8 申请日期 1996.08.15
申请人 三菱电机株式会社 发明人 前野秀史
分类号 H01L21/00 主分类号 H01L21/00
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 杨晓光
主权项 1.一种半导体存储设备,它包括:多个列,每列包含一个具有多个存储单元的阵列;以及一个输出部分,它连接到所述的多个列,其特征在于,所述多个存储单元包含至少一个通/断可控存储单元和至少一个断开状态存储单元;以及,通过有选择地安排所述至少一个通/断可控存储单元和所述至少一个断开状态存储单元,用期望数据对所述多个存储单元进行编程,所述半导体存储设备还包括至少一个数据反相装置,它连接到所述多个列中的若干列,用于把从所述输出部分输出的数据进行反相。
地址 日本东京