发明名称 DEVICE AND PROCESS FOR MEASURING TWO OPPOSITE SURFACES OF A BODY
摘要 Es wird eine Vorrichtung und ein Verfahren bereitgestellt, mit der bzw. mit dem zwei einander gegenüberliegende ebene Oberflächen eines Körpers gleichzeitig mit dem Licht aus einer Strahlungsquelle interferometrisch vermessen werden können. Aus einem über eine Strahlungsquelle (1) erzeugten parallelen Lichtstrahlbündel (P) werden über einen Strahlteiler (8) in Form eines Beugungsgitters Teilstrahlenbündel (A, B) mit positiven und negativen Beugungswinkeln erzeugt, welche jeweils auf die zu vermessenden Oberflächen (90, 91) des Körpers (9) auftreffen und dort reflektiert werden. Die reflektierten Teilstrahlenbündel (A, B) werden mit dem durchgehenden Teilstrahlbündel (P) der nullten Beugungsordnung zur Interferenz gebracht und die so erzeugten Interferenzbilder digitalisiert und voneinander subtrahiert, wodurch die Parallelität der beiden Flächen (90, 91) des Körpers festgestellt werden kann.
申请公布号 WO9727452(A1) 申请公布日期 1997.07.31
申请号 WO1996EP03381 申请日期 1996.08.01
申请人 NANOPRO LUFTLAGER- PRODUKTIONS- UND MESSTECHNIK GM;MUELLER, DIETER 发明人 MUELLER, DIETER
分类号 G01B11/30;G01N21/95;H01L21/66;(IPC1-7):G01B11/30 主分类号 G01B11/30
代理机构 代理人
主权项
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