发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR TESTING IC
摘要
申请公布号 JPH09152466(A) 申请公布日期 1997.06.10
申请号 JP19950314252 申请日期 1995.12.01
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 MASUO YOSHIYUKI;NEMOTO MAKOTO;ITO AKIHIKO
分类号 G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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