发明名称 Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelementes sowie Halbleiterbauelement
摘要 A method of making a contact for a semi conductor device comprises depositing an insulating film 2 on a silicon substrate 1, forming a contact hole, forming a barrier metal layer 4, forming a first metal layer 5 containing no silicon or very little silicon and forming a second metal layer 6 containing silicon on top of the first metal layer.
申请公布号 DE19650331(A1) 申请公布日期 1997.06.05
申请号 DE19961050331 申请日期 1996.12.04
申请人 HYUNDAI ELECTRONICS INDUSTRIES CO., LTD., ICHON, KYOUNGKI, KR 发明人 YU, SANG HO, SEOUL/SOUL, KR;KIM, CHUNG TAE, SEOUL/SOUL, KR
分类号 H01L21/28;H01L21/768;H01L23/522;(IPC1-7):H01L21/283 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人
主权项
地址