发明名称 Verfahren und Apparat zur Wiederstandsmessung in Halbleiterelementen
摘要
申请公布号 DE69122681(T2) 申请公布日期 1997.03.06
申请号 DE1991622681T 申请日期 1991.07.09
申请人 INTERUNIVERSITAIR MICRO-ELECTRONICA CENTRUM VZW, LEUVEN-HEVERLEE, BE 发明人 VANDERVORST, WILFRIED, B-2800 MECHELEN, BE;MEURIS, MARC, B-3140 KEERBERGEN, BE
分类号 G01R27/02;G01R1/067;G01R27/00;G01R27/20;G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01R27/02;G01R27/14 主分类号 G01R27/02
代理机构 代理人
主权项
地址