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发明名称 Optisches Mustererkennungsgerät
摘要
申请公布号 DE69124174(D1) 申请公布日期 1997.02.27
申请号 DE19916024174 申请日期 1991.09.03
申请人 SEIKO INSTRUMENTS INC., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 MITSUOKA, YASUYUKI, KOTO-KU, TOKYO, JP;IWAKI, TADAO, KOTO-KU, TOKYO, JP;YOSHIKAWA, TOMOHIRO, KOTO-KU, TOKYO, JP
分类号 G02F3/00;G06E3/00;G06K9/74;G06T7/00;(IPC1-7):G06K9/74 主分类号 G02F3/00
代理机构 代理人
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