发明名称 SISTEMAS DE PROCESAMIENTO Y ANALISIS DE MUESTRAS CON ESTACION PARA EL SOPORTE DE LAS CUBETAS DE MUESTRAS DURANTE EL PROCESAMIENTO.
摘要 EL SOPORTE (14) PARA ALMACENAR UN BANDEJA DE MUESTRAS (12) CON UN ELEMENTO COBERTOR DE QUITA Y PON (86), INCLUYE UN BASTIDOR CON ABERTURAS DE ACCESO EN DOS CARAS OPUESTAS, PRIMERA (60) Y SEGUNDA (58). LA PRIMERA ABERTURA DE ACCESO (60) RECIBE UNA BANDEJA DE MUESTRAS (12) Y UNA CUBIERTA (86). EL SOPORTE (14) SUJETA LA BANDEJA DE MUESTRAS (12) Y LA CUBIERTA (86), DENTRO DEL AREA DE ALMACENAMIENTO, ENTRE UN PAR DE RESALTES PORTABANDEJAS ESPACIADOS Y ENFRENTADOS (212). LA SEGUNDA ABERTURA DE ACCESO (58) RECIBE UN ELEMENTO EXTERNO (24) QUE SE MUEVE VERTICALMENTE EN EL AREA DE ALMACENAMIENTO PARA LEVANTAR LA BANDEJA DE MUESTRAS (12) DE LOS RESALTES PORTABANDEJAS (202) Y QUE SALE HORIZONTALMENTE DEL AREA DE ALMACENAMIENTO PARA MOVER LA BANDEJA DE MUESTRAS (12), QUE SALE DEL AREA DE ALMACENAMIENTO A TRAVES DE LA SEGUNDA ABERTURA DE ACCESO. EL SOPORTE (218) LEVANTA LA CUBIERTA (86) DE LA BANDEJA DE MUESTRAS (12) PARA RETENERLA INCLINADA DENTRO DEL AREA DE ALMACENAMIENTO, DISPUESTA HASTA EL REGRESO DE LA BANDEJA DE MUESTRAS QUE HA SIDO RETIRADA.
申请公布号 ES2094377(T3) 申请公布日期 1997.01.16
申请号 ES19920923233T 申请日期 1992.10.27
申请人 DADE MICROSCAN INC. 发明人 GRINER, CHRISTOPHER, D.;MALONE, BRIAN, G.
分类号 B01L99/00;B01L3/00;B01L9/00;G01N21/17;G01N35/00;G01N35/02;G01N35/04;(IPC1-7):B01L9/00;A47B88/00 主分类号 B01L99/00
代理机构 代理人
主权项
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