| 发明名称 |
INSPECTION METHOD FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT AND MANUFACTURING SYSTEM OF SEMICONDUCTOR ELEMENT EMPLOYING IT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH08306748(A) |
申请公布日期 |
1996.11.22 |
| 申请号 |
JP19950108454 |
申请日期 |
1995.05.02 |
| 申请人 |
HITACHI LTD;HITACHI HOKKAI SEMICONDUCTOR LTD |
发明人 |
TAIRA TOMOHIRO |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/00;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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