| 摘要 |
<p>Cette invention concerne un circuit permettant d'obtenir des échantillons de composantes en phase et en quadrature d'une forme d'onde d'entrée. Ce circuit comprend un convertisseur analogique-numérique sigma-delta de suréchantillonnage qui reçoit la forme d'onde d'entrée et la convertit en échantillons numériques à une certaine vitesse de suréchantillonnage. Un premier filtre numérique, couplé au convertisseur analogique-numérique, reçoit les échantillons numériques provenant du convertisseur analogique-numérique et fournit les échantillons de composantes en phase de la forme d'onde d'entrée. Un second filtre numérique, couplé au convertisseur analogique-numérique, reçoit les échantillons numériques provenant du convertisseur analogique-numérique et fournit les échantillons de composantes en quadrature de la forme d'onde d'entrée.</p> |
