发明名称 SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE HAVING DATA-COMPRESSION TEST FUNCTION AND TESTING METHOD THEREOF
摘要
申请公布号 JPH08255499(A) 申请公布日期 1996.10.01
申请号 JP19950056370 申请日期 1995.03.15
申请人 FUJITSU LTD 发明人 UCHIDA TOSHIYA
分类号 G06F12/16;G11C11/401;G11C29/26;G11C29/34;G11C29/40;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G06F12/16
代理机构 代理人
主权项
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