发明名称 System und Verfahren zum Testen einer elektronischen Schaltung
摘要
申请公布号 DE4442636(C2) 申请公布日期 1996.09.19
申请号 DE19944442636 申请日期 1994.11.30
申请人 HEWLETT-PACKARD CO., PALO ALTO, CALIF., US 发明人 CONSTANT, AMANDA LEIGH, FORT COLLINS, COL., US;WEBB, DAVID WIGHTMAN, FORT COLLINS, COL., US;LATOURRETTE, SHARON EISENSTADT, LOVELAND, COL., US;MYERS, JEFFREY CLAUDE, BOULDER, COL., US;WITHERS-MIKLOS, KATHERINE ZALESKY, FORT COLLINS, COL., US;LANNEN, KAY COURTNEY, FORT COLLINS, COL., US;TURNER, TED TRENNETH, LOVELAND, COL., US;LEONG, AMOS HONG-KIAT, SINGAPUR/SINGAPORE, SG
分类号 G01R31/00;G01R31/28;G06F11/34;G06Q30/00;G07F7/00;G07F7/02;G07F17/00;(IPC1-7):G06F19/00;G06F12/14;G06F11/25 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人
主权项
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