| 发明名称 |
METHOD FOR AUTOMATIC TESTING OF SEMICONDUCTOR DIODE IN ELECTRONIC TESTING INSTRUMENT AND PORTABLE TESTING INSTRUMENT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH08240639(A) |
申请公布日期 |
1996.09.17 |
| 申请号 |
JP19960008150 |
申请日期 |
1996.01.22 |
| 申请人 |
FURUUKU CORP |
发明人 |
ROBAATO TEII GIBUSON;TOTSUDO II HORUMUDAARU |
| 分类号 |
G01R31/01;G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/01 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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