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发明名称 METHOD OF MEASURING THICKNESS OF FERROMAGNETIC MATERIAL LAYER
摘要
申请公布号 SU1415040(A2) 申请公布日期 1988.08.07
申请号 SU19864106490 申请日期 1986.06.12
申请人 FIZIKO-TEKHNICHESKIJ I AN TSSR 发明人 SAPRANKOV IVAN N,SU;ARUSHANOV STEPAN G,SU;POLUYANOV VIKTOR A,SU
分类号 G01B7/06 主分类号 G01B7/06
代理机构 代理人
主权项
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