| 发明名称 |
Method of chemically differentiated imaging by means of atomic force microscopy |
| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur chemisch differenzierenden Abbildung mittels Rasterkraftmikroskopie unter Verwendung chemisch modifizierter Sonden, wobei die Abbildung im Normalkraft-, Elastizitäts-, Tapping- oder Non-Contact-Modus erfolgt.. Das erfindungsgemäße Verfahren eignet sich zur Abbildung technischer Oberflächen.</p> |
| 申请公布号 |
EP0727639(A1) |
申请公布日期 |
1996.08.21 |
| 申请号 |
EP19960101636 |
申请日期 |
1996.02.06 |
| 申请人 |
BASF AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
HORN, DIETER, DR.;KELLER, HARALD, DR.;SCHREPP, WOLFGANG, DR.;AKARI, SABRI, DR. |
| 分类号 |
G01B21/30;G01B7/34;G01L1/25;G01N19/00;G01Q60/42;G11C13/02;H01J37/28;(IPC1-7):G01B7/34 |
主分类号 |
G01B21/30 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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