| 发明名称 | 可更换测试接头之测试装置 | ||
| 摘要 | 一种可更换测试接头之测试装置，该装置系包括数个经过设计并可供更换之测试接头模组，该测试仪器可以依不同的待测接头需求而选择适当的测试模组，并将该测试模组装设到测试装置预先保留的连接插座上，利用镙丝将该模组固定在测试装置上。 | ||
| 申请公布号 | TW283518 | 申请公布日期 | 1996.08.11 |
| 申请号 | TW082219319 | 申请日期 | 1993.12.31 |
| 申请人 | 博计电子股份有限公司 | 发明人 | 张永龙;刘英彰 |
| 分类号 | G01D21/00;H01R3/00 | 主分类号 | G01D21/00 |
| 代理机构 | 代理人 | 顾宪文 台北巿长安东路二段八一号六楼 | |
| 主权项 | 1. 一种可更换测试接头之测试装置,该装置包括: 一测试接头模组,该测试模组上之测试插座可以是 配合待 测物之待测接头而设计之适当的待测插座;该测试 模组可 以依不同的待测接头需求,而制作成数块不同的模 组供更 换不同;该测试模组上有数个镙丝孔,系用来供该 测试模 组固定在测试仪器上之用; 一连接排针,该连接排针位于测试模组的后方,系 用来与 测试仪器内之接头模组内板上的连接排针插座连 接之用; 一测试接头模组内板;该测试接头模组内板上有一 连接排 针座系用来与测试模组后方连接排针连接之用; 一固定镙丝组,该固定镙丝组系用来将固定测试模 组固定 在测试仪器上之用,并连接与导通待测物与测试装 置之间 高电流流通之用。图示简单说明: 图一系习知的电源测试装置使用实施图; 图二系本创作之测试装置与测试接头模组转换示 意图; 图三A系本创作之可更换式测试接头模组前视图; 图三B系本创作之可更换式测试接头模组后视图; 及 图四系本创作之可更换式测试接头模组用在测试 装置上的 | ||
| 地址 | 台北县新店巿民权路四十二巷五十九弄十号四楼 | ||