| 主权项 |
1.一种用以测试一时脉产生电路之测试装置,该时脉产生电路包括一振荡器及一类比相锁回路电路,该振荡器输出一第一信号,该类比相锁回路电路接受该第一信号且输出一第二信号,该测试装置包括:一重置电路,接受一第一重置信号及该第一信号,产生与该第一信号同步之一第二重置信号;一除法器,接受该第二信号,将该第二信号除以一整数倍后,输出一第三信号,且接受该第二重置信号之控制,当该第二重置信号作用时,该除法器重置;以及一遮罩电路,接受该第三信号,将该第三信号之作用区段之开始部份及结束部份予以遮罩后,输出一第四信号。2.如申请专利范围第1项所述之用以测试一时脉产生电路之测试装置,其中该重置电路包括一第一正反器及一第二正反器,该第一正反器及该第二正反器分别具有一资料输入端、一时脉输入端、及一状态输出端,该第一正反器及该一第二正反器之时脉输入端皆接受该第一信号,该第一正反器之资料输入端接受该第一重置信号,该第二正反器之资料输入端耦接至该第一正反器之状态输出端,该第二正反器之状态输出端输出该第二重置信号。3.如申请专利范围第1项所述之用以测试一时脉产生电路之测试装置,其中该除法器包括复数个正反器,每一该正反器分别具有一资料输入端、一时脉输入端、一状态输出端、及一互补状态输出端,每一该正反器之互补状态输出端及资料输入端耦接在一起,该些正反器前后串接在一起,即前一级正反器之状态输出端耦接至后一级正反器之时脉输入端,第一级正反器之时脉输入端接受该第二信号,最后一级正反器之状态输出端输出该第三信号。4.如申请专利范围第3项所述之用以测试一时脉产生电路之测试装置,其中每一该正反器具有一重置输入端,且每一该正反器之重置输入端接受该第二重置信号之控制,当该第二重置信号作用时,每一该正反器重置。5.如申请专利范围第1项所述之用以测试一时脉产生电路之测试装置,该第四信号送至一测试器,该测试器送出该第一重置信号后,开始计算该第四信号之周期宽度。6.如申请专利范围第1项所述之用以测试一时脉产生电路之测试装置,其中该遮罩电路将该第三信号之作用区段之开始部份遮罩掉的长度等于该第一信号之两个周期的时间。7.如申请专利范围第1项所述之用以测试一时脉产生电路之测试装置,其中该遮罩电路将该第三信号之作用区段之结束部份遮罩掉的长度等于该第一信号之两个周期的时间。8.一种用以测试一时脉产生电路之测试装置,该时脉产生电路包括一振荡器及一类比相锁回路电路,该振荡器输出一第一信号,该类比相锁回路电路接受该振荡信号且输出一第二信号,该测试装置接受该第一信号及该第二信号,输出一第三信号至一测试器,包括:一重置电路,接受该测试器送出之一第一重置信号及该第一信号,产生与该第一信号同步之一第二重置信号;一除法器,接受该第二信号,将该第二信号除以一整数倍后,输出一第四信号,且接受该第二重置信号之控制,当该第二重置信号作用时,该除法器重置;以及一遮罩电路,接受该第四信号,将该第四信号之作用区段之开始部份及结束部份予以遮罩后,输出该第三信号。9.如申请专利范围第8项所述之用以测试一时脉产生电路之测试装置,其中该遮罩电路将该第三信号之作用区段之开始部份遮罩掉的长度等于该第一信号之两个周期的时间。10.如申请专利范围第8项所述之用以测试一时脉产生电路之测试装置,其中该遮罩电路将该第三信号之作用区段之结束部份遮罩掉的长度等于该第一信号之两个周期的时间。图式简单说明:第一图是本发明之用以测试时脉产生电路之测试装置之方块图。第二图是第一图之测试装置运作时之时序图。第三图是除法器之方块图。 |
