发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 半导体装置,具有多层布线构造,此多层布线构造包含有:第一层间绝缘膜;及第二层间绝缘膜,其具有比前述第一层间绝缘膜还大之硬度及弹性模数,且,形成在前述第一层间绝缘膜上。本半导体装置之制造包含有:保护膜形成工程,其系隔着反射防止膜而形成在前述第二层间绝缘膜上;保护层图案形成工程,其系将前述保护膜露光及显像以形成保护层图案;及图案形成工程,其将前述保护层图案作为遮罩,图案形成(patterning)前述反射防止膜及前述多层布线构造。此时,使用一种用来储存无应力或压缩应力之膜,以作为前述反射防止膜。
申请公布号 TW200423287 申请公布日期 2004.11.01
申请号 TW092109901 申请日期 2003.04.28
申请人 富士通股份有限公司 发明人 井上健刚
分类号 H01L21/74 主分类号 H01L21/74
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 日本