半导体试验装置之引线试验电路

摘要

本发明系实现一种引线试验电路，无成本提高，无须大型化构装，而用以试验NC引线。因此，装设有DC专用频道；该DC专用频道系由以下所构成：可间断具DC测定功能之电源的控制信号所控制之继电器，及可间断接地电压电位等之固定电压电位的控制信号所控制另一个继电器。DC专用频道系使用在NC引线检验，分别连接于分成２组而相连之NC引线；一边连接于接地电位，另一边连接于具有DC测定功能之电源，而用以检验NC引线组是否分离。

主权项

1. 一种半导体试验装置之引线试验电路,于具有多条连接于被试验元件(10)之测试器频道(21,22,23,24)之半导体试验装置,其特征在于,设有:由可间断具有DC测定功能之电源(DC2)的控制信号所控制之继电器(RL1);及,可间断固定电压电位之控制信号所控制另一个继电器(RL2)所构成之DC专用频道(31,32)。2. 一种半导体试验装置之引线试验电路,于具有多条连接于被试验元件(10)之测试器频道(21,22,23,24)之半导体试验装置,其特征在于,具有:具有DC测定功能之电源(DC1);由可间断具该测定功能之电源(DC1)的控制信号所控制之继电器(RL1);及,可间断固定电压电位之控制信号所控制另一个继电器(RL2)所构成之DC专用频道(31,32)。图示简单说明:第1图系为方块图,用以显示利用本发明之第1实施例,使用DC专用频道的连接。第2图系为方块图,用以显示使用习知之测试器频道的连接。第3图系为方块图,用以显示利用本发明之第2实施例,使