| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR MEMORY TESTER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH08146094(A) |
申请公布日期 |
1996.06.07 |
| 申请号 |
JP19940306783 |
申请日期 |
1994.11.16 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORP |
发明人 |
TABATA MAKOTO;TSUDO MASARU |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C29/00;G11C29/44;G11C29/56;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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