| 发明名称 |
INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR960006870(B1) |
申请公布日期 |
1996.05.23 |
| 申请号 |
KR19920021611 |
申请日期 |
1992.11.18 |
| 申请人 |
AMERICAN TELEPHONE & TELEGRAPH CO. |
发明人 |
LIN, CHIN - JEN |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/22;G06F11/27;(IPC1-7):G01R31/02 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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